Defektmechanismen in Silizium – Vier Beiträge auf der GADEST 2024
Vom 8. bis 13. September 2024 findet die internationale Konferenzreihe GADEST (Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology) in Bad Schandau statt. Das CiS Forschungsinstitut berichtet gemeinsam mit Forschungspartnern in vier Beiträgen über Defektmechanismen in Silizium bei unterschiedlichen Dotierungen
