Kommende Woche findet am 26.09.2023 der CiS Workshop „Modellierung in der Mikrosystemtechnik“ in Erfurt als Hybridveranstaltung statt.
In der Mikrosystemtechnik sind zuverlässige Simulationswerkzeuge eine Voraussetzung für die Unterstützung des Entwurfs von Bauelementen und Systemen durch umfassende Modellierung auf allen Ebenen. Damit können bereits in einem frühen Entwicklungsstadium Funktions- und Designkonzepte bestätigt und ausgewählt werden. Vielseitige Entwurfsumgebungen werden hierfür eingesetzt, um physikalische und technologische Zusammenhänge darzustellen und einen effizienten Herstellungsprozess zu gewährleisten.
Der Workshop erörtert mechanische und optische Simulationen sowie Multidomain-Modellierungen und legt dabei den Fokus auf Silizium-MEMS- und -MOEMS.
Prof. Peter Schneider, Fraunhofer IIS/EAS und Technische Universität Dresden, wird mit seiner Keynote “Herausforderungen und Perspektiven für die Entwicklung adaptiver mikroelektronischer Systeme“ in die Thematik einführen und den Diskurs eröffnen.
Im weiteren Programm geht unter anderem Dr. Georg Gläser, IMMS, in seinem Vortrag „Artificial Intelligent EDA“ auf neue Werkzeuge zur Entwurfsunterstützung ein. Im Rahmen einer Session zur Simulation von MOEMS stellt Dr. Bernhard Michel, Hembach Photonik GmbH, ein Verfahren vor, mit dem Falschlicht, dass in ein optisches System gelangt, identifiziert und quantifiziert werden kann. Das CiS Forschungsinstitut beteiligt sich mit drei Beträgen, die einerseits halbleiterphysikalische Simulationswerkzeuge zur Modellierung piezoresistiver Widerstandsbrücken und zum Vergleich verschiedener Simulationsanwendungen zur Modellierung optischer Sensoren vorstellen und andererseits die Ermittlung von Materialparametern bei polykristallinem Silizium am Beispiel piezoresistiver Koeffizienten erläutern.
Freuen Sie sich auf spannende Beiträge aus Wissenschaft und Wirtschaft sowie reichlich Gelegenheit zum fachlichen Austausch und Netzwerken.
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