Das CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik ist eine wirtschaftsnahe Forschungseinrichtung mit etwa 120 Mitarbeitenden und Sitz in Erfurt. Wir gehören zu den führenden Instituten für die Entwicklung hochwertiger, siliziumbasierter Mikrosensoren und Mikrosystemen, speziell in den Bereichen MEMS und MOEMS. Aufbauend auf einer mehr als 30-jährigen „Competence in Silicon“ reicht die Expertise von F&E-Leistungen bis zur Klein-serienfertigung kundenspezifischer Mikrokomponenten.
Zum nächstmöglichen Zeitpunkt bieten wir ein Fachpraktikum zum Thema:
Einflussgrößen beim Design und der Herstellung von Halbleiterbauelementen auf die Elektromigrationseigenschaften
Anforderungsprofil:
- Studium der Ingenieurswissenschaften, bevorzugt Elektrotechnik oder Physik
- Sicherer Umgang mit einer Statistiksoftware oder Python
- Selbständigkeit, Teamfähigkeit und Begeisterung für Innovationsthemen
- Strukturiertes Denken und ergebnisorientierte Arbeitsweise
- Gute Englischkenntnisse in Wort und Schrift.
Aufgaben und Arbeitsplan für das Fachpraktikum:
- Messung mittels Laserscanmikroskop
- Bestromung der Teststrukturen aus verschiedenen Materialien
- Auswertung der Volumenänderungen
- Darstellung der Ergebnisse über Volumenänderungen
- Wenn möglich Extrahieren der Elektromigrationsparameter aus Volumenmessungen
Zeitraum und Vergütung:
- Frühestmöglich: Februar 2025, letztmöglich: Januar 2027
- Dauer: mindestens 12 Wochen
- 5 Tage pro Woche, 40h wöchentlich bei Gleitzeit
- Vergütung nach Vereinbarung
Sie erwartet ein modernes Arbeitsumfeld verbunden mit anspruchsvollen Aufgaben.
Wir bieten interessante Perspektiven in einem zukunftsorientierten Unternehmen.
Ihre vollständigen Bewerbungsunterlagen mit Angabe des frühestmöglichen Eintrittstermins richten Sie bitte an:
CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
Konrad-Zuse-Str. 14
99099 Erfurt
E-Mail: karriere@cismst.de
Hinweise zum Datenschutz bei eingehenden Bewerbungen finden Sie hier.
